Архив
Том 23, 2026
Том 22, 2025
Том 21, 2024
Том 20, 2023
Том 19, 2022
Том 18, 2021
Том 17, 2020
Том 16, 2019 г.
Том 15, 2018 г.
Том 14, 2017 г.
Том 13, 2016 г.
Том 12, 2015 г.
Том 11, 2014 г.
Том 10, 2013 г.
Том 9, 2012 г.
Том 8, 2011 г.
Том 7, 2010 г.
Выпуск 6, 2009 г.
Выпуск 5, 2008 г.
Выпуск 4, 2007 г.
Выпуск 3, 2006 г.
Выпуск 2, 2005 г.
Выпуск 1, 2004 г.
Поиск
Найти:
Подписка/отписка
на рассылку новостей
Ваш e-mail:
ISSN 2070-7401 (Print), ISSN 2411-0280 (Online)
Современные проблемы дистанционного зондирования Земли из космоса
физические основы, методы и технологии мониторинга окружающей среды, потенциально опасных явлений
и объектов

  

Современные проблемы дистанционного зондирования Земли из космоса. 2026. Т. 23. № 2. С. 401-411

Отрисовка поверхности Луны для автономных оптических навигационных измерений

Д.Г. Пивоварчук 1 , Б.С. Жуков 1 , И.А. Метельков 1 , И.В. Полянский 1 
1 Институт космических исследований РАН, Москва, Россия
Одобрена к печати: 19.12.2025
DOI: 10.21046/2070-7401-2026-23-2-401-411
Рассмотрена задача отрисовки поверхности Луны на основе её цифровой модели рельефа. Эта задача возникает в контексте автономной оптической навигации при движении космического аппарата на орбите вокруг Луны и на этапе прилунения. Алгоритм отрисовки требуется для двух задач. Для задачи предварительного составления каталога контрольных точек — ориентиров на поверхности Луны, которые будут использоваться для навигации. И второй задачи, возникающей непосредственно во время навигации, — отрисовки контрольных точек из каталога для их сопоставления с изображениями, получаемыми с камеры. Предлагаемый метод основан на алгоритме трассировки лучей, которые позволяет не только вычислять яркость видимых пикселей изображения поверхности, но и определять пиксели, затенённые окружающим рельефом от Солнца. Входными данными алгоритма являются положение и ориентация камеры и положение Солнца. Для корректного вычисления яркости отрисованных точек задаётся модель отражения поверхности. Для задачи навигации около Луны обычно используется модель Хапке или модель Ломмеля – Зеелигера. Качество отрисовки поверхности предлагаемым алгоритмом проверяется с помощью реальных снимков Луны высокого разрешения. Проводится корреляционный анализ между реальными снимками и отрисованными изображениями, чтобы проверить надёжность поиска контрольных точек для решения задачи навигации.
Ключевые слова: Луна, навигация, прилунение, оптические измерения, топографическая карта, контрольные точки, трассировка лучей, отрисовка
Полный текст

Список литературы:

  1. Жуков Б. С., Гришин В. А., Жуков С. Б. и др. Моделирование оптических навигационных измерений на траектории подлёта к районам посадки на Луну // Современные проблемы дистанционного зондирования Земли из космоса. 2018. Т. 15. № 6. С. 154–168. DOI: 10.21046/2070-7401-2018-15-6-154-168.
  2. Hapke B. Theory of reflectance and emittance spectroscopy. N. Y.: Cambridge University Press, 2012. 527 p.
  3. Harris C., Stephens M. A combined corner and edge detector // Proc. 4th Alvey Vision Conf. Manchester, UK, 1988. P. 147–151.
  4. Amanatides J., Woo A. A fast voxel traversal algorithm for ray tracing // Proc. European Computer Graphics Conf. 1987. V. 87. P. 3–10.
  5. Möller T., Trumbore B. Fast, minimum storage raytriangle intersection // J. Graphics Tools. 1997. V. 2. Iss. 1. P. 21–28.